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李晓维
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无线传感器网络技术
:李晓维
作者：
李晓维
出版社：
北京理工大学出版社
出版时间：
2007
ISBN：
978-7-5640-1090-4
索书号：
TP212/29
分类号：
TP212
页数：
442页
价格：
45.00
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累借天数：
累借次数：
本书主要内容包括：第一部分 网络支持技术，第二部分 服务支持技术，第三部分 应用支持技术。
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索书号
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数字集成电路设计验证: 量化评估、激励生成、形式化验证
:李晓维 ...
作者：
李晓维 ...
出版社：
科学出版社
出版时间：
2010
ISBN：
978-7-03-027609-4
索书号：
TN431.2/18
分类号：
TN431.2
页数：
xii, 411页
价格：
58.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书重点介绍过去五年内取得的相关研究成果, 兼顾对国内外近期相关工作的扼要介绍。本书涉及数字集成电路模拟验证的覆盖量化评估和测试激励生成、形式化方法。主体内容包括量化评估、测试激励生成、形式验证三大部分。
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索书号
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数字集成电路测试优化: 测试压缩、测试功耗优化、测试调度
:李晓维 ...
作者：
李晓维 ...
出版社：
科学出版社
出版时间：
2010
ISBN：
978-7-03-027894-4
索书号：
TN431.207/1
分类号：
TN431.207
页数：
344页
价格：
58.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面: 测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度, 包括测试数据压缩的基本原理、激励压缩的有效方法、测试响应压缩方法和电路结构, 测试功耗优化的基本原理、静态测试功耗优化方法、动态测试功耗优化, 测试压缩与测试功耗协同优化方法, 测试压缩与测试调度协同优化方法, 并以国产64位高性能处理器 (龙芯2E和2F) 为例介绍了相关成果的应用。
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索书号
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数字集成电路容错设计: 容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误
:李晓维 ...
作者：
李晓维 ...
出版社：
科学出版社
出版时间：
2011
ISBN：
978-7-03-030576-3
索书号：
TN431.2/23
分类号：
TN431.2
页数：
x, 433页
价格：
68.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面: 容缺陷 (和故障) 、容参数偏差以及软错误 ; 包括3S技术 (自测试、自诊断、自修复) 的基本原理。
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文献类型
中文图书
(
4
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出版社
科学出版社
(
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北京理工大学出版社
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科学出版社
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北京理工大学出版社
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作者
李晓维 ...
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李晓维
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李晓维 ...
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李晓维
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出版年
2010
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2007
(
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2011
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李晓维
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