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数字集成电路设计验证: 量化评估、激励生成、形式化验证
/李晓维 ...
作者
李晓维
...
价格
CNY58.00
出版者
科学出版社
索书号
TN431.2/18
ISBN
978-7-03-027609-4
分类号
TN431.2
页数
xii, 411页
出版日期
20100001
出版地
北京
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:本书重点介绍过去五年内取得的相关研究成果, 兼顾对国内外近期相关工作的扼要介绍。本书涉及数字集成电路模拟验证的覆盖量化评估和测试激励生成、形式化方法。主体内容包括量化评估、测试激励生成、形式验证三大部分。
附注提要
本书重点介绍过去五年内取得的相关研究成果, 兼顾对国内外近期相关工作的扼要介绍。本书涉及数字集成电路模拟验证的覆盖量化评估和测试激励生成、形式化方法。主体内容包括量化评估、测试激励生成、形式验证三大部分。
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TN431.2/18
S1812401
SYXY
书山馆自然科学阅览室
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