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数字集成电路容错设计: 容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误
/李晓维 ...
作者
李晓维
...
价格
CNY68.00
出版者
科学出版社
索书号
TN431.2/23
ISBN
978-7-03-030576-3
分类号
TN431.2
页数
x, 433页
出版日期
20110001
出版地
北京
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:本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面: 容缺陷 (和故障) 、容参数偏差以及软错误 ; 包括3S技术 (自测试、自诊断、自修复) 的基本原理。
附注提要
本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面: 容缺陷 (和故障) 、容参数偏差以及软错误 ; 包括3S技术 (自测试、自诊断、自修复) 的基本原理。
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1
TN431.2/23
S1402213
SYXY
书山馆自然科学阅览室
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