附件:设置1:设置2:韩银和设置3:设置4:本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面: 测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度, 包括测试数据压缩的基本原理、激励压缩的有效方法、测试响应压缩方法和电路结构, 测试功耗优化的基本原理、静态测试功耗优化方法、动态测试功耗优化, 测试压缩与测试功耗协同优化方法, 测试压缩与测试调度协同优化方法, 并以国产64位高性能处理器 (龙芯2E和2F) 为例介绍了相关成果的应用。
附注提要
本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面: 测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度, 包括测试数据压缩的基本原理、激励压缩的有效方法、测试响应压缩方法和电路结构, 测试功耗优化的基本原理、静态测试功耗优化方法、动态测试功耗优化, 测试压缩与测试功耗协同优化方法, 测试压缩与测试调度协同优化方法, 并以国产64位高性能处理器 (龙芯2E和2F) 为例介绍了相关成果的应用。