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微电子测试
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微电子测试
:集成电路测试技术中心主办
作者：
集成电路测试技术中心主办
出版社：
集成电路测试技术中心
出版时间：
1987
ISBN：
1000-8519
索书号：
TN4/7
分类号：
TN4
页数：
11vol.
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电册科技期刊。传播国内外微电子测试与仪器方面的学术动态，刊登微电子测试新技术，新原理，新应用成果，推动我国CAT的进步。主要栏目有：国内外计算机辅助测试(CAT)技术发展状况和动态、微电子信息系统的测试理论、方法和技术、CAT设备的研究、设计、制造、操作、维护经验、微电子测试技术的应用、实践、测试、微电子测试技术、经济信息。
详细信息
索书号
展开
微电子计量测试技术
:沈森祖主, 沈森祖 ...
作者：
沈森祖主, 沈森祖 ...
出版社：
西北工业大学出版社
出版时间：
2009
ISBN：
978-7-5612-2516-5
索书号：
TN407/5
分类号：
TN407
页数：
XI, 227页
价格：
30.00
复本数：
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本书从工程的实际应用出发, 介绍了微电子计量测试的基本概念、微电子计量技术、微电子测试技术、微电子测试设备以及微电子测试程序设计开发技术等内容。
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索书号
展开
智能电网微电子系统测试性评价
:陈晓梅
作者：
陈晓梅
出版社：
中国水利水电出版社
出版时间：
2012
ISBN：
978-7-5084-9395-4
索书号：
TM76/22
分类号：
TM76
页数：
171页
价格：
38.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书结合智能电网的工程背景, 在概述测试性评价分类及意义、测试性建模及多信号模型优势的基础上, 阐述了测试性评价指标体系、多信号仿真建模、多信号模型的分层递阶系统级整合、故障空间内虚假故障分析、测试空间内测试点优化选取等内容。
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索书号
展开
光电子器件微波封装和测试
:祝宁华
作者：
祝宁华
出版社：
科学出版社
出版时间：
2007
ISBN：
978-7-03-019198-4
索书号：
TN206/2
分类号：
TN206
页数：
xiv, 292页
价格：
48.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书重点讨论与光电子器件高速特性相关的芯片测试分析、器件微波封装、高频性能测试、等效电路分析模型、寄生参数的影响及器件封装优化设计等方面问题，而对器件封装设计中的光耦合问题和热力学设计问题不作深入的介绍。但当光耦合和热力学设计结构的对器件高频特性有一定影响时，将结合高速光电子器件的微波封装进行综合讨论。
详细信息
索书号
展开
光电子器件微波封装和测试
:祝宁华
作者：
祝宁华
出版社：
科学出版社
出版时间：
2011
ISBN：
978-7-03-033004-8
索书号：
TN206/2=2
分类号：
TN206
页数：
xvii, 433页
价格：
96.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果, 系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术, 先进性、学术性和实用性兼备。
详细信息
索书号
展开
微机原理与应用考点分析及效果测试
:丛书委会
作者：
丛书委会
出版社：
哈尔滨工程大学出版社
出版时间：
2003
ISBN：
7-81073-295-1
索书号：
TP3/400
分类号：
TP3
页数：
183页
价格：
14.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书主要内容包括了计算机基础知识、微处理器结构、储存器、指令系统、汇编语言程序设计、输入输出与中断系统等。
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文献类型
中文图书
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中文期刊
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出版社
科学出版社
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中国水利水电出版社
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哈尔滨工程大学出版社
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西北工业大学出版社
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集成电路测试技术中心
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科学出版社
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作者
祝宁华
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丛书委会
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沈森祖主, 沈森祖 ...
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)
陈晓梅
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集成电路测试技术中心主办
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祝宁华
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出版年
1987
(
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)
2003
(
1
)
2007
(
1
)
2009
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2011
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2012
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1987
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