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光电子器件微波封装和测试
/祝宁华
作者
祝宁华
价格
CNY96.00
出版者
科学出版社
索书号
TN206/2=2
ISBN
978-7-03-033004-8
分类号
TN206
页数
xvii, 433页
出版日期
20110101
出版地
北京
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:本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果, 系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术, 先进性、学术性和实用性兼备。
附注提要
本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果, 系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术, 先进性、学术性和实用性兼备。
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TN206/2=2
S0781231
SYXY
书山馆自然科学阅览室
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中文图书
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