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微电子测试
/集成电路测试技术中心主办
作者
集成电路测试技术中心主办
价格
出版者
集成电路测试技术中心
索书号
TN4/7
ISSN
1000-8519
分类号
TN4
页数
11vol.
出版日期
19870101
附注提要
电册科技期刊。传播国内外微电子测试与仪器方面的学术动态,刊登微电子测试新技术,新原理,新应用成果,推动我国CAT的进步。主要栏目有:国内外计算机辅助测试(CAT)技术发展状况和动态、微电子信息系统的测试理论、方法和技术、CAT设备的研究、设计、制造、操作、维护经验、微电子测试技术的应用、实践、测试、微电子测试技术、经济信息。
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卷册说明
TN4/7
H0028216
0
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报刊
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1996.1-4
TN4/7
H0032064
0
书山馆闭架书库
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Q
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1995.2-4
TN4/7
H0028215
0
书山馆闭架书库
入藏
报刊
预借
1995.1-4
TN4/7
H0029213
0
书山馆闭架书库
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Q
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1988.1-4
TN4/7
H0094265
0
书山馆闭架书库
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Q
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1987.1.2
TN4/7
H0076639
0
书山馆闭架书库
入藏
报刊
预借
1987.1.2