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于秀山
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C/C++程序缺陷与优化
:于秀山 ...
作者：
于秀山 ...
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2014
ISBN：
978-7-121-22632-8
索书号：
TP312C/1307
分类号：
TP312C
页数：
273页
价格：
49.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书从另外一个视角 —— 程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷, 通过实例分析了缺陷产生的原因, 并给出了具体的修改和优化方法。
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索书号
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Windows分布式Web应用程序编程指南
:美ChristopherBlexrud, 韩柯，于秀山
作者：
美ChristopherBlexrud, 韩柯，于秀山
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2001
ISBN：
7-5053-6834-6
索书号：
TP393.4/177
分类号：
TP393.4
页数：
821页
价格：
86.00
复本数：
在馆数：
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累借次数：
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索书号
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程序设计缺陷分析与实践
:尹浩, 于秀山
作者：
尹浩, 于秀山
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2011
ISBN：
978-7-121-12969-8
索书号：
TP311.1/103
分类号：
TP311.1
页数：
268页
价格：
36.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
全书共5章2个附录, 分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。
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索书号
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软件验证与确认的最佳管理方法
:(美) Steven R. Rakitin, 于秀山, 包晓露, 焦跃
作者：
(美) Steven R. Rakitin, 于秀山, 包晓露, 焦跃
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2002
ISBN：
7-5053-7533-4
索书号：
TP311.5/352
分类号：
TP311.5
页数：
275页
价格：
28.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
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文献类型
中文图书
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出版社
电子工业出版社
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电子工业出版社
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作者
(美) Steven R. Rakitin, 于秀山, 包晓露, 焦跃
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尹浩, 于秀山
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2002
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2011
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2014
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