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程序设计缺陷分析与实践
/尹浩, 于秀山
作者
尹浩,
于秀山
价格
CNY36.00
出版者
电子工业出版社
索书号
TP311.1/103
ISBN
978-7-121-12969-8
分类号
TP311.1
页数
268页
出版日期
20110001
出版地
北京
附件
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:于秀山
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:
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:全书共5章2个附录, 分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。
附注提要
全书共5章2个附录, 分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。
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TP311.1/103
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