返回检索首页
我的图书馆登录
C/C++程序缺陷与优化
/于秀山 ...
作者
于秀山
...
价格
CNY49.00
出版者
电子工业出版社
索书号
TP312C/1307
ISBN
978-7-121-22632-8
分类号
TP312C
页数
273页
出版日期
20140101
出版地
北京
附件
:
设置1
:
设置2
:
设置3
:
设置4
:本书从另外一个视角 —— 程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷, 通过实例分析了缺陷产生的原因, 并给出了具体的修改和优化方法。
附注提要
本书从另外一个视角 —— 程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷, 通过实例分析了缺陷产生的原因, 并给出了具体的修改和优化方法。
目录
暂无目录
(0)
||
(0)
手机二维条形码
二维条形码使用说明
馆藏信息
序号
索书号
码号定位
订户
馆藏地点
馆藏状态
借出日期
还回日期
流通类型
预约处理
卷册说明
登录号
1
TP312C/1307
S0977963
SYXY
书山馆自然科学阅览室
入藏
中文图书
预借
0
2
TP312C/1307
S0977962
SYXY
书山馆自然科学阅览室
入藏
中文图书
预借
0
相关链接: