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C/C++程序缺陷与优化
:于秀山 ...
作者：
于秀山 ...
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2014
ISBN：
978-7-121-22632-8
索书号：
TP312C/1307
分类号：
TP312C
页数：
273页
价格：
49.00
复本数：
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本书从另外一个视角 —— 程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷, 通过实例分析了缺陷产生的原因, 并给出了具体的修改和优化方法。
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电子工业出版社
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作者
于秀山 ...
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