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程序设计缺陷分析与实践
:尹浩, 于秀山
作者：
尹浩, 于秀山
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2011
ISBN：
978-7-121-12969-8
索书号：
TP311.1/103
分类号：
TP311.1
页数：
268页
价格：
36.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
全书共5章2个附录, 分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。
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文献类型
中文图书
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出版社
电子工业出版社
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作者
尹浩, 于秀山
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出版年
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