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数字集成电路测试优化: 测试压缩、测试功耗优化、测试调度
:李晓维 ...
作者：
李晓维 ...
出版社：
科学出版社
出版时间：
2010
ISBN：
978-7-03-027894-4
索书号：
TN431.207/1
分类号：
TN431.207
页数：
344页
价格：
58.00
复本数：
在馆数：
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本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面: 测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度, 包括测试数据压缩的基本原理、激励压缩的有效方法、测试响应压缩方法和电路结构, 测试功耗优化的基本原理、静态测试功耗优化方法、动态测试功耗优化, 测试压缩与测试功耗协同优化方法, 测试压缩与测试调度协同优化方法, 并以国产64位高性能处理器 (龙芯2E和2F) 为例介绍了相关成果的应用。
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