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    MOS digital ICs /:Flynn, George,

    作者:Flynn, George, 出版社:H. W. Sams, 出版时间:1975 ISBN:0-672-21299-4
    索书号:TN431.2/7 分类号:TN431.2 页数:176 p. :
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    数字集成电路设计:李哲英, 骆丽

    作者:李哲英, 骆丽 出版社:机械工业出版社 出版时间:2008 ISBN:978-7-111-21976-7
    索书号:TN431.2/4 分类号:TN431.2 页数:335页 价格:35.00
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    贴片数字集成电路速查手册:本书组

    作者:本书组 出版社:人民邮电出版社 出版时间:2008 ISBN:978-7-115-18476-4
    索书号:TN431.2-62/1 分类号:TN431.2-62 页数:915页 价格:68.00
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    本书首先介绍了该手册的使用方法, 然后以表格的形式重点介绍了各种数字器件的型号、名称、主要参数、生产厂家以及封装形式。
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    数字集成电路新的读看图法:瞿德福

    作者:瞿德福 出版社:中国标准出版社 出版时间:2006 ISBN:7-5066-4265-4
    索书号:TN431.2/17 分类号:TN431.2 页数:171页 价格:25.00
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    本书系统而深入地介绍了了解数字集成电路功能的5种读图方法, 即逻辑图法、逻辑函数式 (即布尔代数) 法、波形图法、真值表法和逻辑符号法。
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    数字电路与系统:王兢, 戚金清

    作者:王兢, 戚金清 出版社:电子工业出版社 出版时间:2011 ISBN:978-7-121-12219-4
    索书号:TN431.2/22 分类号:TN431.2 页数:293页 价格:35.00
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    本书共分九章: 数字逻辑基础, 逻辑门电路, 逻辑代数基础, 组合逻辑电路, 触发器 ; 时序逻辑电路 ; 脉冲波形的产生与与变换 ; 数模与模数转换 ; 数字系统设计基础。
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    纳米数字集成电路老化效应: 分析、预测及优化:靳松, 韩银和

    作者:靳松, 韩银和 出版社:清华大学出版社 出版时间:2012 ISBN:978-7-302-28543-4
    索书号:TN431.2/33 分类号:TN431.2 页数:108页 价格:21.00
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    本书的主要内容涉及一种公认的纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应 —— 负偏置温度不稳定性 (NBTI) 。介绍了NBTI效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响。
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    数字集成电路设计验证: 量化评估、激励生成、形式化验证:李晓维 ...

    作者:李晓维 ... 出版社:科学出版社 出版时间:2010 ISBN:978-7-03-027609-4
    索书号:TN431.2/18 分类号:TN431.2 页数:xii, 411页 价格:58.00
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    本书重点介绍过去五年内取得的相关研究成果, 兼顾对国内外近期相关工作的扼要介绍。本书涉及数字集成电路模拟验证的覆盖量化评估和测试激励生成、形式化方法。主体内容包括量化评估、测试激励生成、形式验证三大部分。
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    中国集成电路大全: 微型计算机集成电路:《中国集成电路大全》委员会

    作者:《中国集成电路大全》委员会 出版社:国防工业出版社 出版时间:1988 ISBN:7-118-00236-4
    索书号:TN431.2/28 分类号:TN4 页数:1193页 价格:41.70
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    本书主要介绍了已列入国家标准系列的4位、8位、16位微处理器电路及各种接口电路的性能特点、功能框图、外引线功能、电参数及工作原理,并给出了应用实例。
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