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数字集成电路容错设计: 容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误
:李晓维 ...
作者：
李晓维 ...
出版社：
科学出版社
出版时间：
2011
ISBN：
978-7-03-030576-3
索书号：
TN431.2/23
分类号：
TN431.2
页数：
x, 433页
价格：
68.00
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本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面: 容缺陷 (和故障) 、容参数偏差以及软错误 ; 包括3S技术 (自测试、自诊断、自修复) 的基本原理。
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