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光电检测技术
:雷玉堂
作者：
雷玉堂
出版社：
中国计量出版社
出版时间：
2009
ISBN：
978-7-5026-2970-0
索书号：
TN206/5
分类号：
TN206
页数：
474页
价格：
48.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书共分11章, 主要描述了光电检测技术的基本概念, 基础知识, 各种检测器件的结构、原理、特性参数、应用, 光电检测电路的设计, 光电信号的数据采集与计算机接口, 光电信号的变换和检测技术, 光电信号变换形式和检测方法及光电检测技术的典型应用等内容。
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索书号
展开
光电子器件微波封装和测试
:祝宁华
作者：
祝宁华
出版社：
科学出版社
出版时间：
2007
ISBN：
978-7-03-019198-4
索书号：
TN206/2
分类号：
TN206
页数：
xiv, 292页
价格：
48.00
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本书重点讨论与光电子器件高速特性相关的芯片测试分析、器件微波封装、高频性能测试、等效电路分析模型、寄生参数的影响及器件封装优化设计等方面问题，而对器件封装设计中的光耦合问题和热力学设计问题不作深入的介绍。但当光耦合和热力学设计结构的对器件高频特性有一定影响时，将结合高速光电子器件的微波封装进行综合讨论。
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索书号
展开
光电检测技术
:曾光宇, 张志伟, 张存林
作者：
曾光宇, 张志伟, 张存林
出版社：
清华大学出版社
出版时间：
2009
ISBN：
978-7-81123-748-1
索书号：
TN206/3
分类号：
TN206-43
页数：
272页
价格：
29.00
复本数：
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累借天数：
累借次数：
本书介绍了光电检测系统的构成和应用基础知识。重点叙述了光电检测过程中常用的光源和各种性能的探测器，并对目前光电子学的前沿内容THz技术作了简单介绍。
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索书号
展开
光电子器件微波封装和测试
:祝宁华
作者：
祝宁华
出版社：
科学出版社
出版时间：
2011
ISBN：
978-7-03-033004-8
索书号：
TN206/2=2
分类号：
TN206
页数：
xvii, 433页
价格：
96.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果, 系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术, 先进性、学术性和实用性兼备。
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索书号
展开
光电信号处理
:何兆湘
作者：
何兆湘
出版社：
华中科技大学出版社
出版时间：
2008
ISBN：
978-7-5609-4622-1
索书号：
TN206/4
分类号：
TN206
页数：
192页
价格：
21.80
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书内容包括: 噪声的基础知识、放大器的噪声分析与低噪声前置放大器、微弱信号检测的基本原理与方法、锁定放大器、光子计数技术。
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索书号
展开
光电测试技术
:浦昭邦, 赵辉
作者：
浦昭邦, 赵辉
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
2010
ISBN：
978-7-111-28643-1
索书号：
TN206/6
分类号：
TN206
页数：
324页
价格：
36.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书系统介绍了光度学的基本理论和光电测量的光学基础, 然后深入地讲述了光电测量技术中光源, 光电变换的光子探测器件、热电探测器件和光电摄像器件及基于电子物理学的光学变换器件的基本原理和使用方法。
详细信息
索书号
展开
光电测试技术
:浦昭邦
作者：
浦昭邦
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
2005
ISBN：
978-7-111-15348-1
索书号：
TN206-43/1
分类号：
TN206-43
页数：
vii, 299页
价格：
28.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书是一本关于光电检测的高等学校的教材，其内容包括：光电测试常用器件，光辐射光度学基础与光源，光电测试技术中常用光学系统等。
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索书号
展开
光电检测技术与应用
:郭培源, 付扬
作者：
郭培源, 付扬
出版社：
北京航空航天大学出版社
出版时间：
2006
ISBN：
7-81077-741-6
索书号：
TN206/1
分类号：
TN206
页数：
243页
价格：
20.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
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北京航空航天大学出版社
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祝宁华
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何兆湘
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曾光宇, 张志伟, 张存林
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浦昭邦
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郭培源, 付扬
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2009
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2005
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2006
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2007
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2008
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