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集成电路测试技术中心主办
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微电子测试
:集成电路测试技术中心主办
作者：
集成电路测试技术中心主办
出版社：
集成电路测试技术中心
出版时间：
1987
ISBN：
1000-8519
索书号：
TN4/7
分类号：
TN4
页数：
11vol.
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
电册科技期刊。传播国内外微电子测试与仪器方面的学术动态，刊登微电子测试新技术，新原理，新应用成果，推动我国CAT的进步。主要栏目有：国内外计算机辅助测试(CAT)技术发展状况和动态、微电子信息系统的测试理论、方法和技术、CAT设备的研究、设计、制造、操作、维护经验、微电子测试技术的应用、实践、测试、微电子测试技术、经济信息。
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