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微电子测试
:集成电路测试技术中心主办
作者：
集成电路测试技术中心主办
出版社：
集成电路测试技术中心
出版时间：
1987
ISBN：
1000-8519
索书号：
TN4/7
分类号：
TN4
页数：
11vol.
复本数：
在馆数：
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电册科技期刊。传播国内外微电子测试与仪器方面的学术动态，刊登微电子测试新技术，新原理，新应用成果，推动我国CAT的进步。主要栏目有：国内外计算机辅助测试(CAT)技术发展状况和动态、微电子信息系统的测试理论、方法和技术、CAT设备的研究、设计、制造、操作、维护经验、微电子测试技术的应用、实践、测试、微电子测试技术、经济信息。
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索书号
展开
电子测试
:北京自动测试技术研究所主办
作者：
北京自动测试技术研究所主办
出版社：
电子测试杂志社
出版时间：
1998
ISBN：
1671-4148
索书号：
TN40/1
分类号：
TN407
复本数：
在馆数：
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索书号
展开
电气测试技术
:徐科军
作者：
徐科军
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2008
ISBN：
978-7-121-06686-3
索书号：
TM93/42
分类号：
TM93
页数：
X, 292页
价格：
29.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书由上篇电磁量测试技术和下篇非电量测试技术共11章组成。上篇介绍电磁量测试技术基本知识、直读式电测仪表、比较式电测仪表、示波器、数字化电测仪表, 以及磁场和磁性材料的测量。下篇介绍非电量测试技术的基础知识、电阻式传感器原理与应用、变阻抗式传感器原理与应用、 光电式传感器原理与应用, 以及电气测量技术新发展。
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索书号
展开
电路测试技术
:张颖
作者：
张颖
出版社：
湖南大学出版社
出版时间：
2008
ISBN：
978-7-81053-775-9
索书号：
TN707/4
分类号：
TN707
页数：
159页
价格：
22.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
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全书共分8章及两个附录, 第1、2章是学生学习电路测试技术课程的必备知识 ; 第3-5章是与电路测试技术相关的基本知识 ; 第6章包括了18个电路基本实验 ; 第7章属于提高中部分 ; 第8章电路实验的计算机仿真, 是近年来各高校将计算机辅助分析 (CAA) 引进课程教学的内容之一。
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索书号
展开
软件测试精要
:51 Testing软件测试网组, 董杰
作者：
51 Testing软件测试网组, 董杰
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2009
ISBN：
978-7-121-08028-9
索书号：
TP311.56/88
分类号：
TP311.56
页数：
XII, 211页
价格：
39.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书内容包括: 测试的态度、测试策略的相关因素、自动化测试策略、性能测试与Troubleshooting、安全测试技术、测试职业发展、测试组织架构与测试管理等。
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索书号
展开
自动化平台测试开发: Python测试开发实战
:邹辉
作者：
邹辉
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2018
ISBN：
978-7-121-34290-5
索书号：
TP311.561/221
分类号：
TP311.561
页数：
X, 273页
价格：
69.00
复本数：
在馆数：
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本书详细介绍了基于Python语言的自动化平台开发以及自动化测试技术知识。本书理论与实践相结合, 以自动化平台开发为主线、自动化测试为辅线贯穿所有内容。具体包括自动化平台开发方案、数据库表结构设计、前后端代码编写, 同时介绍了自动化测试方案、环境、代码、报告、API接口、AppUI、WebUI自动化测试、性能测试等内容。
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索书号
展开
电子测试技术
:金唯香, 谢玉梅
作者：
金唯香, 谢玉梅
出版社：
湖南大学出版社
出版时间：
2008
ISBN：
978-7-81053-779-7
索书号：
TM93/27
分类号：
TM93
页数：
228页
价格：
25.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书内容包括: 常用电子仪器简介、常用电子元器件及其测试方法、基础性实验、综合设计性实验四部分。
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索书号
展开
电子测试、仿真与制作技术
:吴新开
作者：
吴新开
出版社：
中南大学出版社
出版时间：
2009
ISBN：
978-7-81105-998-4
索书号：
TN702/115
分类号：
TN702
页数：
316页
价格：
35.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书分为6章, 内容包括: 电子测量技术基础、常用电子测量仪器仪表、常用电子仿真软件的使用、印刷电路板的设计、电子产品制作工艺、调试工艺基础。
详细信息
索书号
展开
电子线路设计·实验·测试
:罗杰, 谢自美
作者：
罗杰, 谢自美
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2008
ISBN：
978-7-121-05697-0
索书号：
TN702/27
分类号：
TN702
页数：
xiv, 421页
价格：
39.80
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书是一本设计性的实验课教材，将低频电路、高频电路和数字逻辑电路等课程的理论与实际有机地联系起来，介绍了电路的设计方法、设计流程以及电路安装调试技术、性能指标测试方法和电子综合设计中的一些抗干扰技术。还引进了一些EDA新技术，如PSPICE仿真分析、可编程逻辑器件的应用技术、Verilog HDL等。 本书按实验教学的体系进行安排，将全部实验划分为三个层次，即“基础实验－设计性实验－综合设计性实验”。实验内容以工程设计课题为主，以培养学生的工程设计能力、分析问题和解决问题的能力。
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索书号
展开
电子电路测试与实验
:朱定华, 陈林, 吴建新
作者：
朱定华, 陈林, 吴建新
出版社：
清华大学出版社
出版时间：
2004
ISBN：
978-7-302-08285-9
索书号：
TN707/3
分类号：
TN707
页数：
xii, 250页
价格：
23.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
全书分为4章。第1章为模拟电路实验；第2章为数字逻辑电路实验；第3章为OrCAD在电子技术中的应用实验；第4章为在系统可编程技术实验。实验内容及其难易程度覆盖了不同层次的教学要求，各任课教师可灵活选用。
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中文图书
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人民邮电出版社
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北京邮电大学出版社
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机械工业出版社
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湖南大学出版社
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电子科技大学出版社
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成都市527信箱情报资料室
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电子测试杂志社
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西北工业大学出版社
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集成电路测试技术中心
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西安电子科技大学出版社
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高等教育出版社
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人民邮电出版社
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国防工业出版社
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中国时代经济音像电子出版社
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中国铁道出版社
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中国水利水电出版社
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北京邮电大学出版社
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郭春柱
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陈立辉
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温素剑
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3
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(日本) 千驮ケ谷日本语教育研究所
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全国计算机级考试预测试卷研究组
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尚开明
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朱少民
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朱辉
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李立功
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(美) David Kennedy ... , 诸葛建伟 ...
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(美) David Kennedy ... , 诸葛建伟, 王珩, 孙松柏
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