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    实用测试技术:中国测试技术研究院

    作者:中国测试技术研究院 出版社:中国测试技术研究院[发行] 出版时间:1994 ISBN:1006-317X
    索书号:TB9/9 分类号:TB9 页数:9vol.
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    微电子测试:集成电路测试技术中心主办

    作者:集成电路测试技术中心主办 出版社:集成电路测试技术中心 出版时间:1987 ISBN:1000-8519
    索书号:TN4/7 分类号:TN4 页数:11vol.
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    电册科技期刊。传播国内外微电子测试与仪器方面的学术动态,刊登微电子测试新技术,新原理,新应用成果,推动我国CAT的进步。主要栏目有:国内外计算机辅助测试(CAT)技术发展状况和动态、微电子信息系统的测试理论、方法和技术、CAT设备的研究、设计、制造、操作、维护经验、微电子测试技术的应用、实践、测试、微电子测试技术、经济信息。
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    测试技术:甘晓晔

    作者:甘晓晔 出版社:机械工业出版社 出版时间:2009 ISBN:978-7-111-26145-2
    索书号:TB9/18 分类号:TB9 页数:251页 价格:28.00
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    本书共12章,分为测试基础理论知识和典型非电量测量两部分。第一部分包括信号及其描述,测试系统常用传感器,信号调理与记录,测试系统的特性,测试信号的分析与处理;第二部分包括位移的测量,速度的测量,振动的测试,噪声的测量,应变、力和扭矩的测量,温度的测量。
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    测试技术基础:江征风

    作者:江征风 出版社:北京大学出版社 出版时间:2007 ISBN:978-7-301-11486-5
    索书号:TB4/1 分类号:TB4 页数:262页 价格:26.00
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    本书讲述测试技术基础理论及非电量测量的教科书。内容包括:绪论、信号及描述方法、信号分析与处理等。
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    测试技术:尤丽华

    作者:尤丽华 出版社:机械工业出版社 出版时间:2002 ISBN:978-7-111-10005-8
    索书号:TB4/2 分类号:TB4 页数:180页 价格:16.00
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    本书共分七章,内容包括:测试技术概论;测试系统常用传感器;测试信号分析;计算机辅助测试技术;测试系统应用等。
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    测试技术基础:王伯雄

    作者:王伯雄 出版社:清华大学出版社 出版时间:2012 ISBN:978-7-302-28459-8
    索书号:TB9/15=2 分类号:TB9 页数:XII, 310页 价格:38.00
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    本书分为七章, 内容包括: 绪论 ; 测试信号分析与处理 ; 测试系统特性分析 ; 被测量的获取 ; 测试信号的转换与调理 ; 信号的输出等。
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    测试技术:彭俊彬

    作者:彭俊彬 出版社:北京交通大学出版社 出版时间:2013 ISBN:978-7-5121-1324-4
    索书号:TB9/23 分类号:TB9 页数:168页 价格:26.00
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    本书内容包括信号描述、测试装置的基本特性、常用传感器、信号的调理与记录、信号分析与处理、测试技术的工程应用、计算机测试系统与虚拟仪器等。本书着重基本概念和原理的阐述, 突出理论知识的应用, 加强了针对性和实用性。
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    软件测试技术与测试实训教程:黎连业 ...

    作者:黎连业 ... 出版社:机械工业出版社 出版时间:2012 ISBN:978-7-111-38496-0
    索书号:TP311.5/306 分类号:TP311.5 页数:364页 价格:45.00
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    本书共有21章;内容包括了软件测试的基本知识、软件测试的核心技术等。
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    电子测试:北京自动测试技术研究所主办

    作者:北京自动测试技术研究所主办 出版社:电子测试杂志社 出版时间:1998 ISBN:1671-4148
    索书号:TN40/1 分类号:TN407
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