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数字集成电路设计验证: 量化评估、激励生成、形式化验证
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数字集成电路设计验证: 量化评估、激励生成、形式化验证
:李晓维 ...
作者：
李晓维 ...
出版社：
科学出版社
出版时间：
2010
ISBN：
978-7-03-027609-4
索书号：
TN431.2/18
分类号：
TN431.2
页数：
xii, 411页
价格：
58.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书重点介绍过去五年内取得的相关研究成果, 兼顾对国内外近期相关工作的扼要介绍。本书涉及数字集成电路模拟验证的覆盖量化评估和测试激励生成、形式化方法。主体内容包括量化评估、测试激励生成、形式验证三大部分。
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科学出版社
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作者
李晓维 ...
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2010
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