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传感器和通信中的CMOS级联式Sigma-Delta调制器
:Río R. d. ...
作者：
Río R. d. ...
出版社：
科学出版社
出版时间：
2007
ISBN：
978-7-03-018849-6
索书号：
TN432/5
分类号：
TN432
页数：
299页
价格：
45.00
复本数：
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累借天数：
累借次数：
本书介绍了涉及集成电路组件的集成和设计的较宽范围的内容，提供给读者用简单公式估计晶体管几何尺寸和推演电路行为的方法，广泛覆盖场效应管的设计、MOS管的建模和数字CMOS集成电路设计基础以及MOS存储器结构和设计。本书突出了在片上系统设计和集成方面知识增加的需求，第一次在单本书中覆盖半导体物理学、数字VLSI设计和模拟集成电路，介绍了集成电路半导体组件的基本行为和基于CMOS与BiCMOS工艺的数字和模拟集成电路的设计。
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索书号
展开
CMOS数字集成电路应用百例
:姜艳波
作者：
姜艳波
出版社：
化学工业出版社
出版时间：
2009
ISBN：
978-7-122-04384-9
索书号：
TN432/6
分类号：
TN432
页数：
212页
价格：
36.00
复本数：
在馆数：
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本书主要介绍CMOS应用的实例, 包括门电路逻辑电路、逻辑运算电路、总线驱动与开关电路以及其他综合应用等。
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索书号
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纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
:(美) 桑迪普 K.戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂, 续海涛
作者：
(美) 桑迪普 K.戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂, 续海涛
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
2016
ISBN：
978-7-111-52184-6
索书号：
TN432/19
分类号：
TN432
页数：
XIII, 191页
价格：
59.90
复本数：
在馆数：
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本书分为4个部分: 第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成 (ATPG) ; 第2部分介绍全速测试, 并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD ; 第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案 ; 第4部分介绍了SDD的测试标准等内容。
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中文图书
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出版社
化学工业出版社
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机械工业出版社
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科学出版社
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化学工业出版社
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机械工业出版社
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作者
(美) 桑迪普 K.戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂, 续海涛
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Río R. d. ...
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姜艳波
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(美) 桑迪普 K.戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂, 续海涛
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Río R. d. ...
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姜艳波
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出版年
2007
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2009
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2016
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