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嵌入式系统中的辐射效应:(法) 拉乌尔·委拉兹克, 帕斯卡·弗埃雷特, (巴西) 里卡多·赖斯, Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis, 黄云 ...
作者:(法) 拉乌尔·委拉兹克, 帕斯卡·弗埃雷特, (巴西) 里卡多·赖斯, Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis, 黄云 ...
出版社:机械工业出版社
出版时间:2018
ISBN:978-7-111-58286-1
索书号:TP360.21/85
分类号:TP360.21
页数:XI, 234页
价格:79.00
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本书由法国TIMA实验室的Raoul Velazco、法国波尔多第一大学的Pascal Fouillat和巴西南里奥格兰德联邦大学的Ricardo Reis共同编著, 从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应, 主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。
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- (法) 拉乌尔·委拉兹克, 帕斯卡·弗埃雷特, (巴西) 里卡多·赖斯, Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis, 黄云 ... (1)
- (美) 哈里·T·赖斯, 查尔斯·M·贾德, Harry T. Reis, Charles M. Judd, 张建新(1)
- Anthony J. Dos Reis, 杨萍(1)
- Ricardo Reis, Marcelo Lubaszewski, Jochen A. G. Jess(1)
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- (法) 拉乌尔·委拉兹克, 帕斯卡·弗埃雷特, (巴西) 里卡多·赖斯, Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis, 黄云 ... (1)
- (美) 哈里·T·赖斯, 查尔斯·M·贾德, Harry T. Reis, Charles M. Judd, 张建新(1)
- Anthony J. Dos Reis, 杨萍(1)
- Ricardo Reis, Marcelo Lubaszewski, Jochen A. G. Jess(1)
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