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互换性与技术测量:于雪梅, 参冯立超, 张淑兰, 方政
作者:于雪梅, 参冯立超, 张淑兰, 方政
出版社:机械工业出版社
出版时间:2013
ISBN:978-7-111-42728-5
索书号:TG801/26
分类号:TG801
页数:198页
价格:26.00
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本书共分七章, 在讲解测量技术基础, 尺寸公差与配合, 几何公差与检测, 表面粗糙度与检测, 孔、轴检测与量规设计基础的基础上, 结合常用结合件将课程所涉及的知识进行综合应用, 使读者能够更好地理解、掌握和应用教材知识。
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