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专利测度与评价指标体系研究
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专利测度与评价指标体系研究
:叶春明, 刘长平
作者：
叶春明, 刘长平
出版社：
知识产权出版社
出版时间：
2013
ISBN：
978-7-5130-1893-7
索书号：
G306.3/21
分类号：
G306.3
页数：
231页
价格：
35.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书在对专利测度与专利评价的理论研究基础上, 对比分析了发达国家以及我国现有的专利评价指标体系, 依据评价指标体系设计原则, 结合技术创新的发展趋势, 构建出包含区域、高校 (研究所)、企业不同层次的专利综合评价指标体系、专利保护水平评价指标体系和基于证券化的专利价值评估指标体系, 并利用基于集成各种评价模型的综合评价方法, 对选取的不同行业的样本企业或高校进行技术创新与专利评价的实证分析。最后, 针对专利综合实力对经济发展的贡献进行了实证研究, 揭示出专利综合实力与经济增长的内在关系以及对经济发展的促进作用。
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作者
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